腐蝕

普林斯頓應用研究提供一系列電化學儀器及附件，幫助腐蝕研究科學家完成他們的研究。無論是恆電流/恆電位儀對腐蝕速率的測量，還是專業設計的腐蝕池，或是掃描電化學工作站的定性及定量測量，所有的產品都由普林斯頓應用研究在設計及技術支援上的美譽支撐。

當選擇一個電化學測試系統，關鍵是選擇*適合您的現在及未來研究需求的產品。不同的技術指標對不同應用來說非常重要：

PARSTAT 2273 電化學工作站提供100V的槽壓

一個電化學工作站的槽壓能夠決定它能施加給電化學池多大的功率。高阻抗電解液，如常常在腐蝕研究中遇到的…油，水泥，土壤…很多體系都需要高槽壓來克服高阻環境，這一點對於您未來研究物件的寬範疇來說是非常重要的。

VersaSTAT 3F電化學工作站具有浮地功能

每個電化學體系只能有一個接地端，多個接地端會造成接地迴路ground loops，這將導致震盪，產生不可信及不可預知的資料。浮地設計，可以完成接地樣品（如高壓釜或鋼筋）的測試。

VersaSTAT4 電化學工作站具有附加的低電流量程及頻寬濾波

腐蝕電流可能非常低。小電流表徵了低腐蝕速率，同時也是非常難於測量的值。小電極甚至在中等電流密度下也只有產生小電流。同樣，腐蝕樣品因為尺寸或氧化塗層通常並不能產生高電流。具有附加的低電流量程及頻寬濾波功能的VersaSTAT 4給了滿足您應用及測試的更多硬體選擇。

VersaSCAN 掃描電化學工作站的模組化設計

帶掃描的三維平臺上，可以配置不同的電化學測試模組，如掃描振動電極系統（SVP/SVET), 掃描開爾文探針測試系統 (SKP), 掃描電解液微滴系統(SDS), 微區電化學阻抗測試系統 (LEIS), 掃描電化學顯微鏡 (SECM), 以及非接觸式微區形貌掃描系統(OSP) .  在三維VersaSCAN平臺上的掃描技術提供樣品表面微區電化學的各類資訊。 腐蝕機理常常不是一個一致的過程，例如點腐蝕。你用SVP能觀察到點腐蝕的初始和鈍化。使用SKP可以測量無電解質或潮溼環境下和電化學腐蝕相關的樣品。你可以用SDS在樣品表面上移動一個連續流動的微液滴系統，把你的觀察區域限定在液滴範圍。透過LEIS可以研究有機塗層上的劃痕。透過SECM利用空間分辨研究控制下的電化學過程的機理。還可以透過OSP得到表面形貌。

K0047 腐蝕電解池

在世界範圍的腐蝕測試實驗室大量使用。這個池設計符合*流行的美國標準測試方法ASTM的幾個標準。

K0235 平面電解池

設計用於不同尺寸的平面樣品，在實驗中只有特定區域暴露在腐蝕液中。

VersaSTAT 和 PARSTAT系列電化學工作站均配有FRA頻率響應分析選項

滿足電化學阻抗譜 (EIS) 的測量。EIS令人難以置信的有用，對於樣品，把樣品的響應分成不同部分可以分別表徵表面有機塗層（如油漆）和下面的裸金屬。

恆電量（恆電流）或作為零阻計 (ZRA)的功能

我們的儀器不僅是恆電位儀，而且實際上可以有更多功能，每個我們的電化學工作站都有恆電量（恆電流）或作為零阻計 (ZRA)的功能。在腐蝕中，恆電量控制在恆電量G-LPR測試中要求，這個實驗對於參比電極中疑似有氣泡的情況，如在油中，連續檢測試驗非常有用。使用G-LPR測試時，參比電極中的氣泡能夠產生壞的資料點，但是系統不會像恆電位控制的情況失去對反應的控制。

零阻計 (ZRA) 不施加任何訊號，僅僅測量電流和電壓的響應。在電偶腐蝕和電化學噪聲研究中特別有用。電偶腐蝕在兩塊金屬在電解液中相接觸時產生，例如焊縫或甚至於金屬植入物上不同金屬的螺絲。電化學噪聲是研究兩個已知材料的隨機反應。電偶腐蝕中，金屬不同，然而，在電化學噪聲中，金屬是相同的。

腐蝕應用軟體

對於直流腐蝕測來那個，我們的PowerCORR 軟體提供12種標準方法，包括 Tafel塔菲爾曲線，線性極化，迴圈極化，恆電位。對於電化學阻抗譜EIS PowerSINE 軟體提供和PowerCORR一樣的靈活性，包括同時把四個象限放到一個螢幕上同時顯示（便於EIS資料的解析。對於等效電路擬合軟體，ZSimpWin 可以把得到的資料和選擇的模型進行統計對比。VersaSTAT 系列電化學工作站採用VersaStudio軟體，它是一個序列化程式設計和靈活圖文資料相結合的軟體。

所有以上的特色強調了選擇一個有著顯著聲譽和良好設計的產品的公司有多麼重要。作為一個腐蝕研究的科學家，你需要確認你的研究是基於10年，25年和50年的遠景，難道不應該選擇一個具有同樣年份的公司嗎？沒有人做腐蝕研究的電化學工作站歷史比我們長，我們也認為沒有人比我們更好！