電化學工作站那些隱藏的溫柔-SECM掃描軟探針技術

它源於專注，成於專業

它外表低調，卻技能奢華

它能屈能伸，所以總能點石成金

它不是錦上添花，而是雪中送炭

它就是來自於普林斯頓掃描電化學工作站Versascan家族成員-SCEM軟探針技術。

SCEM技術對錶面高低不平說 NO

這項經AMETEK與瑞士洛桑理工（LEPA-EPFL）合作推出，由Hubert Girault教授及其團隊研發的接觸式等距SECM技術，可以跟樣品進行軟接觸，接觸力僅為硬探針接觸的1/1000，可以溫柔的撫過樣品表面，不但能避免劃傷樣品同時還可以有效的消除SECM成像時樣品表面高低不平造成的影響。

Versascan電化學工作站實現抗氧活性分析

長期放置的蘋果由於脫水氧化表皮變的褶皺不平，無法使用常規的硬探針技術進行定位掃描，而軟探針技術剛好可以解決這方面的後顧之憂。瑞士聯邦理工學院Hubert Girault授利用Versascan軟探針技術實現了對於蘋果皮抗氧化活性的分析測定。

這項經AMETEK與瑞士洛桑理工（LEPA-EPFL）合作推出，由Hubert Girault教授及其團隊研發的接觸式等距SECM技術，可以跟樣品進行軟接觸，接觸力僅為硬探針接觸的1/1000，可以溫柔的撫過樣品表面，不但能避免劃傷樣品同時還可以有效的消除SECM成像時樣品表面高低不平造成的影響。

Hubert H. Girault etal. Journal of Electroanalytical Chemistry 786 (2017) 120-128

Mapping the antioxidant activity of apple peels with soft probe scanning electrochemical microscopy

與常用的硬性探針相比，柔性探針具有以下優勢：

1、無需額外增加昂貴的控制與測量硬體

2、無需為達到控制距離而預先測試樣品表面的地形地貌

3、當與樣品表面接觸時，探針會發生柔性彎曲，避免探針自身被劃傷以及探針對樣品表面造成損害

4、可存放多個剪貼內容，方便重複使用常規技術中硬性探針和樣品直接接觸會導致表面易損樣品被損壞，如人體組織等。而柔性探針接觸樣品的接觸力僅為常規硬接觸探針的千分之一

看了這些：

您還在糾結探針該如何定位嗎？

您還在害怕探針會到撞擊嗎？

您還在擔心探針會劃傷樣品嗎？

為什麼不來感受一下軟探針的溫柔。。。。。。

全方位覆蓋能源研究

輸力強-1260A&EnergylabXM電化學工作站的強強聯合真正實現了能源研究從覆蓋材料 - 單體 - 短堆測試的全方位覆蓋。

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為了使廣大科研工作者能更全面深入的瞭解全新黃金搭檔1260A-EnergylabXM電化學工作站的優勢及應用，如果之前錯過我們直播的各位老師和同學可以檢視我們的回放連結哦。

1、電化學交流阻抗的原理，應用及挑戰 

*交流阻抗基本原理及測試技巧

*交流阻抗發展及熱點應用

*交流阻抗面臨的挑戰

http://live.vhall.com/949699523

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2、面向固態電池及金屬離子電池的電化學測試

*固態電池的測試要求以及挑戰

*金屬離子電池動態EIS

*金屬離子電池及模組的一致性測試

http://live.vhall.com/596717485

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3、電解水及燃料電池關鍵材料的電化學表徵 

*催化劑及MEA測試

*動態交流阻抗應用

*雙極膜、陰陽極非對稱研究

*電堆中單體同步失效診斷

http://live.vhall.com/618102928

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