電化學工作站測試的那些“Coupling”

Solartron: 嘿，在看什麼呢？笑的這麼開心！

Princeton: 哈哈！見笑了，我在磕我的“CP”呢！

Solartron: 哦！你是說你喜歡的明星或情侶組合吧？

Princeton: 沒錯啦，你懂得還挺多，哈哈！

Solartron: 當然！其實在我們電化學測試領域也有很多“CP”哦，很多研究人員也“磕”出了不少新理念，新思維呢！

Princeton: 真的嗎？來來來，煮壺酒，再上盤青梅！

Solartron: 其實輸力強就有一對非常經典的CP（1260A & 1287A）。高精度寬頻範圍的頻響儀1260A是很多研究人員進行固態材料及半導體材料EIS測試的首先，這個我有在之前的“固態電池研究中的黑科技”中說過了。而1287A恆電位不僅可以做所有電化學的直流測試，搭配1260A後，還能進行電化學領域的EIS測試（交流測試）。

Princeton: 哇噢，分則兩臺儀器，合則一套神器，果然是好“CP”！來而不往非禮也，我也給你介紹一組普林斯頓的好“CP”吧。

Solartron: 太好了，願聞其詳。

Princeton:  普林斯頓VersaSCAN微區掃描電化學測試系統中的SKP（掃描開爾文探針系統）和SVET（掃描振動電極測量系統）就是一對常用於金屬樣品區域性腐蝕表徵的組合。研究人員可以先採用SKP技術在氣相條件下對金屬樣品進行表面元素及晶型分佈的掃描。然後利用VersaSCAN的閉環控制技術，精確定位同一區域，並進行液相條件下的SVET掃描。透過對比同一區域SKP和SVET的結果譜圖，可更有效地分析和推斷金屬樣品發生區域性腐蝕的反應機理。

SKP : Fig. 8.Volta potential distribution

SVET : Fig. 13. 3D SVET maps of the scratched samples immersed in 0.1 M NaCl

參考資料：

Yue Zhao, Xiao-Han Chen, Ji-Ming Hu

A novel and facile method for constructing micro-nano porous phytic acid pretreatment layer on metal surface

https://doi.org/10.1016/j.corsci.2021.109464

Solartron:  yyds！不僅將不同裝置組成CP，而且不同的測試技術也能組成如此優秀的CP。

Princeton: 是的，一組好的CP，可以讓研究人員打破原有的研究模式，拓展出更多更新的研究思路和角度，增加研究的深度和維度。

Solartron: 沒錯！經你這麼一說，我覺得輸力強的1260A和Energylab XM可成為儲能研究領域的一組幹將莫邪般的CP。1260A的10µHz-32MHz的頻率測試範圍以及*高的頻率解析度，成為固態電解質研究的不二選擇，自是不用多說。而Energylab XM的1M樣品每秒的取樣速率，4組輔助分壓進行電池組或同步陰陽極測試，快速多波及非線性諧波阻抗測試技術，幾乎滿足了儲能領域從鋰電到*容再到燃料電池，對電化學測試的所有需求。

Princeton:  猴賽雷！這對CP，我磕了！

Solartron: 安排！