在材料測試應用中輸力強介電測試介面具有什麼優勢？

Q:  What advantages does the Solartron dielectric interface offer in materials measurement applications? 
在材料測試應用中輸力強介電測試介面具有什麼優勢？

A:  介電測試介面1296A於1997年正式推出，是為擴充套件1260A的測試能力和範圍而設計的，專門應用於材料測試。很多材料都具有低電導性（高阻抗）和低電容性的特點，這些材料通常被稱作介質物質。雖然很多材料不被認為是介電物質卻往往表現出與介電物質相同的特性。介電測試介面擴充套件了1260A如下很多方面的操作範圍。

• 電導率測量到0.1 pMho。
• 精確測量介質損耗：Tan δ<0.0001
• 頻率範圍：100µHz - 10MHz
• 阻抗測量範圍擴充套件至10Tohms (T = 10^12)
• 可施加高達1000V的偏置電壓（透過連線外部電源）
• 測試過程中可控制樣品溫度
• 提供了內部和外部的標準參比電容以提高測量的精確度。

介電測試介面可以選擇使用內部參比電容還是外部參比電容以基本上符合所有的測量需要。

介電測試介面有廣泛的應用範圍，包括：

• 液晶，聚合物及液體分子動力學中的弛豫過程。
• 半導體，有機晶體，陶瓷等材料中的電荷遷移。
• 化學反應，聚合作用以及固化過程的分析。
• 結構材料效能，如相合成，相變及結晶過程。
• 非線性電學及光學效應。
• 新穎的氣體與液體感測器。
• 絕緣材料及半導體材料表徵。