首頁 > 技術支持 > 一般問題 > 怎樣利用介電測試介面來提高實驗資料的採集效率?

怎樣利用介電測試介面來提高實驗資料的採集效率?

時間:2019-05-19閱讀:2294

Q:  How can the acquisition of experimental data be improved using the dielectric interface?

怎樣利用介電測試介面來提高實驗資料的採集效率?

A:   介電測試介面在高頻測試時(<10MHz)需要使用外部標準作為參比,這些標準樣需要用短電纜線(必須與連線樣品的線一樣長短)連線到介電測試介面上,這樣可以儘量減小高頻測試時的相位漂移並且會提高樣品資料的採集能力。

對於介電材料測試,建議比較好的測試方式是去測試兩組資料,一組是含有樣品時的測試資料另一組則是不含樣品時的測試資料,這樣就可以做一個比較以便於消除實驗誤差。

上壹個:怎樣排除GPIB卡通訊故障?

下壹個:對於交流阻抗測試方法來說比較新興的應用是什麼?

台灣地區

聯繫地址: 新竹辦事處 新竹市公道五路二段120號10樓之5

聯繫電話: +886-3-575-0099 ext 208

上海演示中心

聯繫地址:上海外高橋富特東三路526號1幢二層

聯繫電話:021-58685111-AMT SI,4008353166轉1,amt.si.china@ametek.com

北京維修中心

聯繫地址:北京市朝陽區酒仙橋路10號京東方大廈二層西側

聯繫電話:010-85262111-12,186 0067 3523,amt.si.china@ametek.com

投訴電話

聯繫地址:北京市朝陽區酒仙橋路10號京東方大廈二層西側

聯繫電話:010-85262111-15,138 1746 0237

銷售熱線:
+886-3-575-0099 ext 208

郵箱:
info.taiwan@ametek.com