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Solartron: 嘿,在看什么呢?笑的这么开心!
Princeton: 哈哈!见笑了,我在磕我的“CP”呢!
Solartron: 哦!你是说你喜欢的明星或情侣组合吧?
Princeton: 没错啦,你懂得还挺多,哈哈!
Solartron: 当然!其实在我们电化学测试领域也有很多“CP”哦,很多研究人员也“磕”出了不少新理念,新思维呢!
Princeton: 真的吗?来来来,煮壶酒,再上盘青梅!
Solartron: 其实输力强就有一对非常经典的CP(1260A & 1287A)。高精度宽频范围的频响仪1260A是很多研究人员进行固态材料及半导体材料EIS测试的首先,这个我有在之前的“固态电池研究中的黑科技”中说过了。而1287A恒电位不仅可以做所有电化学的直流测试,搭配1260A后,还能进行电化学领域的EIS测试(交流测试)。
Princeton: 哇噢,分则两台仪器,合则一套神器,果然是好“CP”!来而不往非礼也,我也给你介绍一组普林斯顿的好“CP”吧。
Solartron: 太好了,愿闻其详。
Princeton: 普林斯顿VersaSCAN微区扫描电化学测试系统中的SKP(扫描开尔文探针系统)和SVET(扫描振动电极测量系统)就是一对常用于金属样品局部腐蚀表征的组合。研究人员可以先采用SKP技术在气相条件下对金属样品进行表面元素及晶型分布的扫描。然后利用VersaSCAN的闭环控制技术,精确定位同一区域,并进行液相条件下的SVET扫描。通过对比同一区域SKP和SVET的结果谱图,可更有效地分析和推断金属样品发生局部腐蚀的反应机理。
SKP : Fig. 8.Volta potential distribution
SVET : Fig. 13. 3D SVET maps of the scratched samples immersed in 0.1 M NaCl
参考资料:
Yue Zhao, Xiao-Han Chen, Ji-Ming Hu
A novel and facile method for constructing micro-nano porous phytic acid pretreatment layer on metal surface
https://doi.org/10.1016/j.corsci.2021.109464
Solartron: yyds!不仅将不同设备组成CP,而且不同的测试技术也能组成如此优秀的CP。
Princeton: 是的,一组好的CP,可以让研究人员打破原有的研究模式,拓展出更多更新的研究思路和角度,增加研究的深度和维度。
Solartron: 没错!经你这么一说,我觉得输力强的1260A和Energylab XM可成为储能研究领域的一组干将莫邪般的CP。1260A的10µHz-32MHz的频率测试范围以及*高的频率分辨率,成为固态电解质研究的不二选择,自是不用多说。而Energylab XM的1M样品每秒的采样速率,4组辅助分压进行电池组或同步阴阳极测试,快速多波及非线性谐波阻抗测试技术,几乎满足了储能领域从锂电到*容再到燃料电池,对电化学测试的所有需求。
Princeton: 猴赛雷!这对CP,我磕了!
Solartron: 安排!
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