电化学工作站之微区扫描技术应用

电化学荧光探针-SECM/荧光显微镜联用

近日，法国巴黎萨克雷大学(Universtsité Paris-Saclay)Fabien Miomandre教授团队，开创性的将普林斯顿VersaSCAN微区扫描电化学系统*高空间分辨SECM技术与时间分辨倒置荧光显微镜进行联用， 成功的用于调控和研究溶液中四嗪衍生物的氧化还原态，及其电化学荧光变色行为。

归一化的荧光强度差异-“开”和“关”的状态可以由探针的电位和探针-样品距离进行调控。首次成功展示了，冷光寿命可以被调制，并证实了发光强度的下降是由电荷的淬灭过程引起。 实验结果显示，电荷淬灭归结为受激发的荧光团和电生阴离子自由基之间的电荷转移反应 。混合的动态和静态的淬灭机理可用于拟合荧光强度和寿命的比例对库伦电荷的变化。静态淬灭的相关性由密度泛函数(DFT)进行验证。分别测试了绝缘玻璃和导电ITO上的逼近曲线，基于荧光寿命调制的光学逼近曲线，相比基于电流的单电化学信号更灵敏。*后，数学模型也很好的验证了这些光学的逼近曲线，证明了电荷淬灭过程对荧光强度和寿命变化的影响。

更多详情请参考以下原文

Time-Resolved Fluorescence Microscopy Combined with Scanning Electrochemical Microscopy: A New Way to Visualize Photo-Induced Electron Transfer Quenching with an Electrofluorochromic Probe，

J. Phys. Chem. C，2020,124,43,2