在材料测试应用中输力强介电测试接口具有什么优势？

Q:  What advantages does the Solartron dielectric interface offer in materials measurement applications? 
在材料测试应用中输力强介电测试接口具有什么优势？

A:  介电测试接口1296A于1997年正式推出，是为扩展1260A的测试能力和范围而设计的，专门应用于材料测试。很多材料都具有低电导性（高阻抗）和低电容性的特点，这些材料通常被称作介质物质。虽然很多材料不被认为是介电物质却往往表现出与介电物质相同的特性。介电测试接口扩展了1260A如下很多方面的操作范围。

• 电导率测量到0.1 pMho。
• 精确测量介质损耗：Tan δ<0.0001
• 频率范围：100µHz - 10MHz
• 阻抗测量范围扩展至10Tohms (T = 10^12)
• 可施加高达1000V的偏置电压（通过连接外部电源）
• 测试过程中可控制样品温度
• 提供了内部和外部的标准参比电容以提高测量的精确度。

介电测试接口可以选择使用内部参比电容还是外部参比电容以基本上符合所有的测量需要。

介电测试接口有广泛的应用范围，包括：

• 液晶，聚合物及液体分子动力学中的弛豫过程。
• 半导体，有机晶体，陶瓷等材料中的电荷迁移。
• 化学反应，聚合作用以及固化过程的分析。
• 结构材料性能，如相合成，相变及结晶过程。
• 非线性电学及光学效应。
• 新颖的气体与液体传感器。
• 绝缘材料及半导体材料表征。